Gå direkt till :
Visa info ( Klicka här )
Finns inte förarbetet, kommer du till startsidan för att söka förarbeten.
Förarbeten till :
Sök andra medverkande i offentliga utredningar :
Medverkande i utredning : Jonas Edholm
Observera att flera personer kan ha samma namn och att stavningen av namnet kanske inte är helt perfekt.
Sören Öman har förmodligen inte medverkat i utredning med personen, men väl med många andra.
Visa information om utredningen från kommittéberättelsen ( Klicka här )
Sören Öman har inte medverkat i denna utredning, men väl i många andra. » Utredningar med Sören Öman
]
Källa : Sveriges riksdag / Regeringskansliets rättsdatabaser
Jonas Edholm har en skrift i biblioteksdatabasen 
Visa skriften ( Klicka här )
Skrift av Jonas Edholm i biblioteksdatabasen :
Observera att sökningen inte är helt perfekt och att flera personer kan ha samma namn.
» Sök själv efter Jonas Edholm i
Edholm, Jonas och Kutti, Markus, LIN-based multiplexed electrical system in Volvo Trucks : a case study, 2004, Chalmers tekniska högsk., Göteborg
Jonas Edholm har skrifter i SwePub hos Kungl. biblioteket (Artiklar och annat material av personer vid svenska lärosäten)
Visa skrifterna ( Klicka här )
Skrifter av Jonas Edholm i SwePub :
Observera att sökningen inte är helt perfekt och att flera personer kan ha samma namn.
» Sök själv efter Jonas Edholm i SwePub
Hållstedt, Julius, Hellström, Per-Erik, Zhang, Zhen, Malm, B. Gunnar, Edholm, Jonas, Lu, J., Zhang, Shi-Li, Radamson, Henry och Östling, Mikael, A robust spacer gate process for deca-nanometer high-frequency MOSFETs, Microelectronic Engineering, 2006, 83 nr 3, s. 434–439, : Elsevier BV
Olsen, Sarah H., Escobedo-Cousin, Enrique, Varzgar, John B., Agaiby, Rimoon, Seger, Johan, Dobrosz, Peter, Chattopadhyay, Sanatan, Bull, Steve J., O'Neill, Anthony G., Hellström, Per-Erik, Edholm, Jonas, Östling, Mikael, Lyutovich, Klara L., Oehme, Michael och Kasper, Erich, Control of self-heating in thin virtual substrate strained Si MOSFETs, IEEE Transactions on Electron Devices, 2006, 53 nr 9, s. 2296–2305, : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Varzgar, John B., Kanoun, Mehdi, Uppal, Suresh, Chattopadhyay, Sanatan, Tsang, Yuk Lun, Escobedo-Cousins, Enrique, Olsen, Sarah H., O'Neill, Anthony, Hellström, Per-Erik, Edholm, Jonas, Östling, Mikael, Lyutovich, Klara, Oehme, Michael och Kasper, Erich, Reliability study of ultra-thin gate oxides on strained-Si/SiGe MOS structures, Materials Science & Engineering, 2006, 135 nr 3, s. 203–206, : Elsevier BV
Sökningar efter Jonas Edholm
Sök på Sören Ömans hemsida efter Jonas Edholm
Sök hela webben efter Jonas Edholm
Sök på regeringens och riksdagens hemsidor efter Jonas Edholm
Sök om Jonas Edholm förekommer i domstolsavgöranden
Sök kontaktuppgifter till Jonas Edholm på :
eniro.se | hitta.se | merinfo.se | mrkoll.se | ratsit.se